XDL / XDLM / XDAL. Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Una variedad de versiones, que difieren en su fuente de rayos X, filtro, apertura y detector, permiten seleccionar el dispositivo de rayos X con la configuración que mejor se adapte a su tarea de medición específica.
XDL / XDLM / XDAL. Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Una variedad de versiones, que difieren en su fuente de rayos X, filtro, apertura y detector, permiten seleccionar el dispositivo de rayos X con la configuración que mejor se adapte a su tarea de medición específica.
Medición de recubrimientos en placas grandes y placas de circuitos flexibles (PCB flexibles)
Finas capas conductoras y / o de separación en placas de circuito
Recubrimientos en componentes tridimensionales
Recubrimientos cromados, por ejemplo, artículos de plástico con acabado cromado decorativo.
Análisis de baños de galvanoplastia.
Análisis de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores.
Análisis de recubrimientos de materiales duros, por ejemplo CrN, TiN o TiCN
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